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电子元器件老化测试-55℃至+125℃高低温机-江苏康士捷机械设备有限公司设计生产。
康士捷生产的工业控温设备有高温型（5℃～35℃）、中温型（-5℃～-40℃）、低温型（-40℃～-80℃）、极低温型（-150℃～-80℃）、冷热两用型（-150℃～+300℃）等系列产品供贵司选用。制冷量大小都有，有防爆型，防腐型，撬装式，变频型等。接受非标定做。温度稳定性±0.1℃等可选。
以下列出部分参数，贵司参数沟通选型后确认。
电子元器件（如芯片、PCB、传感器等）在-55℃至+125℃范围内的老化测试（Burn-in Test）是评估其可靠性、寿命及环境适应性的关键环节。
电子元器件老化测试-55℃至+125℃高低温机典型应用
IC芯片（CPU、GPU、存储器）的高低温循环测试。
汽车电子（ECU、雷达、BMS）的AEC-Q100/-200认证。
电子（航天级元器件）的MIL-STD-883测试。
消费电子（手机主板、IoT模块）的长期老化验证。
核心测试标准
适用范围 | 温度要求 |
车规级芯片 | -40℃~+125℃（Grade 1） |
/航天电子 | -55℃~+125℃（Method 1010） |
电子器件温度循环测试 | -65℃~+150℃（可选） |
电工电子产品环境试验（低温/高温） | -55℃~+125℃（定制） |
电子元器件老化测试-55℃至+125℃高低温机型号齐全
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